2007年开发的VAIS-AMT系列是韩国首个商业化的桌面主动减振系统。满足 IEST 的 VC-G 类环境的减振系统，以适应原子力显微镜（AFM），一种特别容易受到低频振动干扰的设备。

VAIS-AMT 消除了无源隔离系统的共振现象，安装和操作程序更简单。自商业化以来，VAIS-AMT 卓越的性能和具有竞争力的价格得到了全球 AFM 制造商的认可，并应用于各种纳米测量仪器。

【特性】

1. 易于安装和运输

由金属螺旋弹簧支撑，VAIS-AMT 不需要压缩空气供应，可以方便地运输和安装在任何有电的地方。

2. 前反馈控制

利用反馈和前反馈控制，VAIS-AMT 具有出色的防止低频振动干扰的能力，这是被动防振系统的常见问题。

3. LED 状态指示灯

前面板上的三个 LED 灯（红、绿、蓝）方便地显示振动环境变化和可维护性的状态。

4. 简易自我诊断

数字控制的 VAIS-AMT 设计用于方便地自我诊断与操作相关的故障，例如重心变化。

5. 远程支持

提供远程实时支持，方便性能诊断和技术支持。

【性能】

1. 减振性能（传递率）

2. 气动减振器与VAIS-AMT性能对比（3D光学表面轮廓仪的干涉条纹图像）

气动减振

VAIS-AMT

【应用领域】

一、应用说明

1. VAIS-AMT 系列是为适应 AFM/SPM 而开发的，这需要很长时间才能获得最佳图像。 该系列创造稳定振动环境的能力已通过全球多家 AFM 制造商的彻底验证，并在各种场所得到应用。

2. 凭借在振动敏感原子力显微镜方面的经验，VAIS-AMT 正在将其范围扩展到各种需要高精度测量的显微镜，包括高端光学显微镜、3D 表面光学轮廓仪、mini-SEM、纳米技术。

3. 通过消除气动被动隔离系统的振动放大（共振）问题并提供有竞争力的价格，VAIS-AMT 系列将努力为所有需要纳米级测量的分析设备提供理想的振动环境。

二、应用仪器

原子力显微镜 (AFM)

扫描探针显微镜 (SPM)

3D表面测量系统

台式扫描电子显微镜 (Mini-SEM)

高精度光学显微镜

纳米压痕系统

纳米测量/分析仪器